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插损回损测试仪

内置高稳定光源;大尺寸彩屏显示;可通过菜单设置测试阈值;双波长IL/RL同时测试;支持多种光纤接口转换;增加850波长,可检测多模跳线插损;内置红光功能,便于找到跳线另一端提升测试速度;可增加850nm波长,可检测多模跳线插损(选配)

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产品介绍

产品特点:

内置高稳定光源

大尺寸彩屏显示

可通过菜单设置测试阈值

双波长IL/RL同时测试

支持多种光纤接口转换

增加850波长,可检测多模跳线插损

内置红光功能,便于找到跳线另一端提升测试速度

可增加850nm波长,可检测多模跳线插损(选配)


参数规格:

规格

参数

单位

光回波损耗测试

测试波长

单模:1310/1550(±10)  
多模:850/1310(±10)

nm

适用波长类型

单模:9/125  
多模:50/125或62.5/125

μm

输出功率

单模:≥-5  
多模:≥-28

dBm

输出稳定度

单模:±0.015 (15min@25℃)  
多模:±0.05 (15min@25℃)

dB

连接器类型

FA/APC


测试范围

0~75

dB

显示分辨率

0.1


光插入损耗测试

探测器类型

InGaAs 2.0


波长范围

800~1700

nm

校准波长

850/1300/1310/1490/1550/1625

nm

测量范围

单模:+3~-75
多模:+3~-75

dBm

插损不确定度

单模:±0.05
多模:±0.01

dB

插损稳定度

单模:±0.01
多模:±0.03

dB

功率不确定度

0.25(+3~-55dBm)

dB

显示分辨率

0.01